干漆膜测厚仪仪器校满度的校正方式

更新日期： 2021-11-09

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　　干漆膜测厚仪采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。用于对材料表面保护、装饰形成的覆盖层，如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等，在有关国家和标准中称为覆层。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。

　　干漆膜测厚仪仪器校满度的校正:

　　1、根据要测量的涂层厚度，选择适当的标准膜片，进行满度校准。

　　2、先将标准膜片放在铁基上（或不带涂层的测量体上）。

　　3、再将测量探头压在标准膜片上，测量值就显示在显示器上，若测量值与标准膜片不同，测量值可通过加1键或减1键来修正。修正时，测量探头一定提起，否则，按加1键或减1键无效。

　　4、为保证校满度的准确性，可通过多次测同一标准膜片来验证。

　　干漆膜测厚仪仪器使用注意：

　　测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质。

　　不应在紧靠试件的突变处，如边缘、洞和内转角等处进行测量。

　　检查基体金属厚度是否超过临界厚度，无损检测资源网如果没有，可采用3.3中的某种方法进行校准。

　　不应在试件的弯曲表面上测量。

　　通常由于仪器的每次读数并不*相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。