欢迎光临北京时代中科仪器设备有限公司网站!
销售咨询热线:
15010532497

产品目录

Product Category
您的位置: 网站首页 > 技术文章 > 干漆膜测厚仪仪器校满度的校正方式

干漆膜测厚仪仪器校满度的校正方式

发布日期: 2021-11-09
浏览人气: 245
   干漆膜测厚仪采用磁感应原理时,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度。用于对材料表面保护、装饰形成的覆盖层,如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等,在有关国家和标准中称为覆层。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。覆层越厚,则磁阻越大,磁通越小。

  干漆膜测厚仪仪器校满度的校正:
  1、根据要测量的涂层厚度,选择适当的标准膜片,进行满度校准。
  2、先将标准膜片放在铁基上(或不带涂层的测量体上)。
  3、再将测量探头压在标准膜片上,测量值就显示在显示器上,若测量值与标准膜片不同,测量值可通过加1键或减1键来修正。修正时,测量探头一定提起,否则,按加1键或减1键无效。
  4、为保证校满度的准确性,可通过多次测同一标准膜片来验证。

  干漆膜测厚仪仪器使用注意:
  测量前,应清除表面上的任何附着物质,如尘土、油脂及腐蚀产物等,但不要除去任何覆盖层物质。
  不应在紧靠试件的突变处,如边缘、洞和内转角等处进行测量。
  检查基体金属厚度是否超过临界厚度,无损检测资源网如果没有,可采用3.3中的某种方法进行校准。
  不应在试件的弯曲表面上测量。
  通常由于仪器的每次读数并不完全相同,因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异,也要求在任一给定的面积内进行多次测量,表面粗造时更应如此。
分享到:
扫一扫访问手机站扫一扫访问手机站
访问手机站